Quelle est la différence entre le test de décharge partielle et le test hipot?
Le test de décharge partiel et le test HIPOT sont des méthodes importantes pour inspecter l'isolation de l'équipement électrique. Cependant, il existe des différences significatives dans leurs objectifs de détection, leurs principes techniques et leurs scénarios d'application. Le test HIPOT se concentre sur la vérification de la capacité de traits globale de l'isolation en appliquant une haute tension, tandis que le test PD est utilisé pour supprimer la décharge partielle de l'équipement pendant le test pour détecter avec précision les défauts d'isolation potentiels de l'objet de test.
Test de hipot: Ce test examine principalement la résistance globale de l'isolation principale de l'équipement. En appliquant une tension d'essai supérieure à la tension de travail nominale (généralement durée de 1 à 5 minutes), il détermine si l'isolation a été décomposée ou a une fuite sévère. L'objectif central est de vérifier la «résistance aux dommages» de l'isolation. En appliquant une haute tension à travers le transformateur de test de fréquence de puissance ou le système de test de résonance de la série, et en utilisant la capacité de tolérance du matériau d'isolation sous un champ électrique fort pour déterminer sa qualification.
Test de décharge partielle: Sur la base du test de tension de traitant, l'accent est mis sur la détection des signaux de décharge partielle de l'objet de test sous haute tension. Dans le même temps, il est nécessaire que la quantité de décharge partielle du dispositif de test lui-même soit extrêmement faible (sans caractéristiques de décharge) pour éviter d'interférer avec les véritables signaux de décharge partielle de l'objet de test. L'objectif central est de découvrir des «défauts microscopiques» à l'intérieur de l'isolation (comme les défauts de fabrication, les dommages au vieillissement, etc.). En utilisant des matériaux isolants spéciaux et en optimisant la conception du champ électrique, la quantité de décharge partielle du dispositif de test lui-même est extrêmement faible (généralement <5 pc), garantissant la précision des signaux de décharge partielle des objets de test.